運用先進的技術進行基礎開發設計

緊湊型結構設計，X射線管、樣品、探測器之間更加精細緊密，大大提高信號強度

對用戶友善的全景+微區雙相機設計，觀察樣品更為全面，微區相機小至納米級別的分辨率，實現更為快速便捷的測試

射線光學系統採用國際最新的多導毛細管技術，信號強度比金屬準直系統高出數個等級         

可選擇多毛細管，@ 25 μm、15 μm、5 μm FWHM等，滿足用戶測試需求

多導毛細聚焦光學元件的光束尺寸可小至5um，可測量一般金屬准直器無法測量的微區

獨特的光學器件，可以測量微電子產品、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區域。可以測量納米級的鍍層，常規鍍層測試遊刃有餘

可以同時測試23層鍍層和24種元素

測量範圍：從鋁（13）到鈾（92）之間的元素分析從元素鋰（3）到鈾（92）的涂鍍層厚度可以測量

無標準片測量，內部設定12種純元素光譜庫

可程式設計自動位移平臺，無人值守、自動檢測樣品

影像識別功能，自動判定測試位置

完全符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標準